Autopano-taift-c Mise en uvre de la détection des fonctions Autopano-SIFT-C-C-SIFT.
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Autopano-taift-c Classement & Résumé

Autopano-taift-c Mots clés

détection caractéristique Tamiser Détection de fonctionnalités algorithme de détection TAMISER

Autopano-taift-c La description

Autopano-SIFT-C - Mise en uvre de la détection des fonctions SIFT. L'algorithme de détection des fonctions SIFT a été inventée et publiée par David Lowe à l'Université de la Colombie-Britannique. L'algorithme fournit la capacité d'identifier des points de fonctionnalité clés d'images au sein des images. Il extrait en outre des informations très distinctes pour chaque point de ce type et permet de caractériser le point invariant à un certain nombre de modifications à l'image. Il est invariant de contraster / luminosité change, à la rotation, à la mise à l'échelle et au partiellement invariant vers d'autres types de transformations. L'algorithme peut être utilisé de manière flexible pour créer des données d'entrée pour la correspondance d'images, l'identification de l'objet et d'autres algorithmes liés à la vision de l'ordinateur. L'utilisation de l'algorithme SIFT pour la création automatique Panorama a été développée par Matthew Brown et David Lowe dans leur "Panoramas reconnaissant". Quoi de neuf dans cette version: · Cette version contient de nombreux bugs et améliorations de la vitesse, ainsi que la prise en charge de l'identification de fonctionnalités dans un espace conforme.

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